
半導體產業是電子信息產業的核心基石,其制程迭代速度遵循“摩爾定律”,當前主流工藝已進入5nm量產階段,3nm技術逐步落地。在先進制程中,晶圓表面的微小污染物(如金屬離子、有機雜質、微粒)會導致光刻圖形畸變、器件漏電、介電層擊穿等致命缺陷,直接影響芯片良率與可靠性。超純水作為半導體制造中唯一直接接觸晶圓表面的“通用溶劑”,其純度控制已成為制程突破的關鍵瓶頸之一。
傳統超純水制備技術多依賴“預處理+反滲透(RO)+離子交換(IE)+終端過濾”工藝,存在離子交換樹脂再生頻繁、TOC去除不徹底、能耗高、運維復雜等問題,難以適配先進制程對水質穩定性與低能耗的雙重需求。博清生物基于“膜分離-電去離子(EDI)-高級氧化”集成技術,開發了超純水機,通過優化預處理單元、采用抗污染RO膜與高效EDI膜堆、引入紫外(UV)高級氧化TOC去除模塊,實現超純水的高效制備與穩定供應。
一、半導體制造對超純水的核心需求
半導體制造流程涵蓋晶圓制備、光刻、蝕刻、CMP、薄膜沉積、封裝測試等數十個環節,不同環節對超純水的水質要求存在差異化,但核心指標均需符合SEMI(國際半導體產業協會)制定的超純水標準。
(一)關鍵水質指標要求
1、電阻率:反映水中離子含量,半導體制造要求超純水電阻率達到理論最大值 18.25MΩ?cm(25℃),避免離子殘留導致器件漏電;
2、總有機碳(TOC):有機雜質會在光刻過程中與光刻膠反應,形成難以去除的殘留物,因此要求TOC≤10ppb;
3、微粒:粒徑≥0.1μm的微粒會附著于晶圓表面,導致光刻圖形缺陷,要求每毫升超純水中微粒數量≤1個;
4、金屬離子:Na?、K?、Fe3?、Cu2?等金屬離子會擴散至半導體晶格,改變器件電學性能,要求濃度≤0.1ppt。
(二)典型工藝環節的差異化需求
1、晶圓清洗環節:需超純水具備強潔凈能力,且無二次污染,要求TOC≤10ppb,避免清洗后晶圓表面殘留雜質;
2、化學機械拋光(CMP)環節:超純水用于稀釋拋光液與沖洗拋光殘留物,需穩定的電阻率(18.25MΩ?cm)與低金屬離子含量,防止拋光液組分失效;
3、薄膜沉積環節:超純水用于清洗沉積腔體,要求 TOC≤10ppb,避免有機雜質影響薄膜純度與附著力。
二、超純水機的技術體系與創新點
博清生物超純水機采用“預處理-核心凈化-終端精制-智能控制”四級工藝架構,針對半導體制造的水質需求進行技術優化,其核心技術體系如下:
(一)預處理系統:保障核心單元穩定運行
預處理單元采用“多介質過濾+活性炭吸附+精密過濾”三級設計:
1、多介質過濾:以石英砂、無煙煤為濾料,去除進水中的懸浮物、膠體顆粒,降低濁度至≤0.1NTU,避免后續RO膜堵塞;
2、活性炭吸附:采用柱狀顆粒活性炭,吸附水中余氯、部分有機物,防止RO膜被氯氧化降解;
3、精密過濾:采用聚丙烯濾芯,截留殘余微粒,確保進入RO單元的進水濁度≤0.05NTU。
(二)核心凈化單元:實現高純度水質制備
核心凈化單元整合“反滲透(RO)+電去離子(EDI)+紫外高級氧化(UV-TOC)”技術,是超純水純度提升的關鍵:
1、反滲透(RO)模塊:采用抗污染型芳香族聚酰胺復合膜,操作壓力0.6-0.8MPa,水溫25℃條件下,脫鹽率≥99.8%,TOC去除率≥80%,將進水電阻率從0.1MΩ?cm 提升至5-10MΩ?cm;
2、電去離子(EDI)模塊:采用均相離子交換膜堆,通過電場作用實現離子的連續去除,無需樹脂再生,電阻率提升至15-18MΩ?cm,金屬離子去除率≥99.99%;
3、紫外高級氧化(UV-TOC)模塊:采用 185nm/254nm雙波長紫外燈,185nm紫外線產生羥基自由基,氧化分解水中有機污染物,TOC去除率≥95%,將TOC降至0.5ppb以下。
(三)終端精制系統:保障水質無二次污染
終端精制單元采用“超濾(UF)+混床離子交換樹脂”設計:
1、超濾模塊:采用聚醚砜(PES)中空纖維膜,孔徑0.02μm,截留水中微粒與細菌,去除率≥99.9%;
2、混床離子交換樹脂:采用核級均粒樹脂,進一步去除殘余離子,確保電阻率穩定達到18.2MΩ?cm。
(四)智能控制與監測系統
設備搭載PLC控制系統與觸摸屏,具備以下功能:
1、實時監測:在線監測電阻率、TOC、流量、壓力、水溫等關鍵參數,數據采樣頻率1次/秒,超標時自動報警;
2、智能調節:根據進水水質波動自動調整RO運行壓力、EDI電流、UV燈功率,保障水質穩定;
3、運維管理:記錄設備運行數據,支持遠程運維,提示濾芯更換、UV燈壽命等維護節點。
三、技術優勢分析
與傳統超純水設備相比,博清生物超純水機的核心優勢體現在三方面:
(一)水質穩定性:通過“RO+EDI+UV-TOC”集成技術,避免離子交換樹脂再生導致的水質波動,實現電阻率與TOC的長期穩定;
(二)低能耗與環保:EDI模塊無需酸堿再生,減少化學試劑消耗與廢水排放;抗污染 RO 膜降低運行壓力,單位產水能耗顯著低于傳統設備;
(三)智能運維:在線監測與遠程運維功能減少人工干預,降低半導體制造中的人為誤差風險。
四、應用局限性與改進方向
當前設備在3nm及以下更先進制程中的應用仍需優化:
TOC 控制:3nm制程要求TOC≤0.2ppb,需進一步提升UV-TOC模塊的氧化效率,可考慮引入臭氧協同氧化技術;
微粒控制:需開發孔徑更小(0.01μm)的超濾膜,滿足≤0.05μm微粒的去除需求。
未來可通過優化TOC與微粒去除模塊,進一步適配3nm及以下制程的需求,為電子行業半導體制造的技術突破提供關鍵支撐。





